高端与原位测试
高端与原位测试

球差校正电镜

高分辨TEM或STEM原子尺度结构观察配套谱学分析评估
测试方式
高分辨TEM或STEM / 原子尺度结构观察 / 配套谱学分析评估
仪器配置
按样品特性与目标尺度确认
服务报价
按测试与制样方案确认
检测周期
确认方案后安排排期
选择测试并填写需求

项目简介

项目简介

根据高分辨观察目标,确认球差校正电镜与配套分析需求。

  • 高分辨TEM或STEM
  • 原子尺度结构观察
  • 配套谱学分析评估

通过像差校正提高电子显微成像能力,在合适样品和模式下研究精细晶体结构、界面与原子尺度特征。

  1. 明确目标与样品信息,选择适用测试方法及条件。
  2. 样品需足够薄、稳定且污染较少。明确关注结构、取向、元素与束敏感性,制样方式应尽量保留真实结构。
  3. 按照确认的测试方案采集数据,记录条件与质量控制信息。
  4. 选定区域图像、采集条件及约定的元素或谱学信息,分析范围另行明确。

测试模块

测试模块

高分辨TEM或STEM

通过像差校正提高电子显微成像能力,在合适样品和模式下研究精细晶体结构、界面与原子尺度特征。

条件确认
请提供样品成分、关注结构、电子束敏感性和制样需求。
样品准备
样品需足够薄、稳定且污染较少。明确关注结构、取向、元素与束敏感性,制样方式应尽量保留真实结构。
交付范围
选定区域图像、采集条件及约定的元素或谱学信息,分析范围另行明确。

原子尺度结构观察

通过像差校正提高电子显微成像能力,在合适样品和模式下研究精细晶体结构、界面与原子尺度特征。

条件确认
请提供样品成分、关注结构、电子束敏感性和制样需求。
样品准备
样品需足够薄、稳定且污染较少。明确关注结构、取向、元素与束敏感性,制样方式应尽量保留真实结构。
交付范围
选定区域图像、采集条件及约定的元素或谱学信息,分析范围另行明确。

配套谱学分析评估

通过像差校正提高电子显微成像能力,在合适样品和模式下研究精细晶体结构、界面与原子尺度特征。

条件确认
请提供样品成分、关注结构、电子束敏感性和制样需求。
样品准备
样品需足够薄、稳定且污染较少。明确关注结构、取向、元素与束敏感性,制样方式应尽量保留真实结构。
交付范围
选定区域图像、采集条件及约定的元素或谱学信息,分析范围另行明确。

样品要求

样品状态与前处理

样品需足够薄、稳定且污染较少。明确关注结构、取向、元素与束敏感性,制样方式应尽量保留真实结构。

随样提供的信息

请提供样品成分、关注结构、电子束敏感性和制样需求。

每份样品设置唯一编号,注明成分、保存条件及已知危险性。确认接收条件与收样地址后再寄出。

结果交付

选定区域图像、采集条件及约定的元素或谱学信息,分析范围另行明确。

原始图像或数据
采集条件记录
约定的分析结果

图像数量、文件格式、分析深度及报告用途在委托时约定。示意图用于解释结果形式,不作为真实检测案例。

常见问题

Q1任何样品都能拍到单原子吗?

不能保证。元素衬度、厚度、稳定性、取向及载体背景均影响可见性,需具体评估。

Q2送样前需要提供什么信息?

请提供样品成分、关注结构、电子束敏感性和制样需求。

Q3费用、周期与交付内容怎样确定?

按测试模式、样品状态、制样工作量和分析内容确认报价与排期。请在委托时明确原始文件、图表及报告用途。

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