透射电子显微镜 TEM

围绕材料内部微观结构、颗粒形态和晶格信息制定透射电镜观察方案。

• 常规透射形貌
• 高分辨晶格与选区衍射
• STEM及元素分布

电子穿过足够薄的试样后形成透射像与衍射信息，用于观察颗粒、界面和晶体微结构；高分辨条件下可进一步观察晶格条纹。

1. 明确目标与样品信息，选择适用测试方法及条件。
2. 颗粒可考虑分散后载网，块体和薄膜通常需要减薄制样。明确目标元素、溶剂及束敏感性，载网材质应避免干扰目标元素分析。
3. 按照确认的测试方案采集数据，记录条件与质量控制信息。
4. 带标尺图像、选定区域衍射图或元素图。晶格间距测量、索引与统计属于需要明确的分析内容。