高端与原位测试

原位扫描电子显微镜（in-situ-SEM）

形貌观察晶格或衍射元素点分析元素面分布

项目简介

测试目的及应用场景测试原理测试步骤

原位扫描电子显微镜（in-situ-SEM）：通过电子显微成像及适用的衍射、能谱方式，研究局部形貌和微区结构。

原位扫描电子显微镜（in-situ-SEM）：通过电子显微成像及适用的衍射、能谱方式，研究局部形貌和微区结构。

形貌观察晶格或衍射元素点分析元素面分布

原位扫描电子显微镜（in-situ-SEM）：通过电子显微成像及适用的衍射、能谱方式，研究局部形貌和微区结构。

条件确认: 写明目标尺度、拍摄区域、视野数量、束流或电压限制。；说明是否允许切片、镀膜、离子加工，以及束敏感和空气敏感情况。；说明原位扫描电子显微镜（in-situ-SEM）希望回答的问题、参考标准或文献及需要的输出。；填写温度、气体、电位或载荷的范围、变化步骤、采集间隔、池体及窗口材料。
样品准备: 说明导电性、磁性、真空稳定性及观察面，提供定位示意图。
交付范围: 显微图像及选定的衍射或元素分析数据，附采集条件。

原位扫描电子显微镜（in-situ-SEM）：通过电子显微成像及适用的衍射、能谱方式，研究局部形貌和微区结构。

条件确认: 写明目标尺度、拍摄区域、视野数量、束流或电压限制。；说明是否允许切片、镀膜、离子加工，以及束敏感和空气敏感情况。；说明原位扫描电子显微镜（in-situ-SEM）希望回答的问题、参考标准或文献及需要的输出。；填写温度、气体、电位或载荷的范围、变化步骤、采集间隔、池体及窗口材料。
样品准备: 说明导电性、磁性、真空稳定性及观察面，提供定位示意图。
交付范围: 显微图像及选定的衍射或元素分析数据，附采集条件。

原位扫描电子显微镜（in-situ-SEM）：通过电子显微成像及适用的衍射、能谱方式，研究局部形貌和微区结构。

条件确认: 写明目标尺度、拍摄区域、视野数量、束流或电压限制。；说明是否允许切片、镀膜、离子加工，以及束敏感和空气敏感情况。；说明原位扫描电子显微镜（in-situ-SEM）希望回答的问题、参考标准或文献及需要的输出。；填写温度、气体、电位或载荷的范围、变化步骤、采集间隔、池体及窗口材料。
样品准备: 说明导电性、磁性、真空稳定性及观察面，提供定位示意图。
交付范围: 显微图像及选定的衍射或元素分析数据，附采集条件。

原位扫描电子显微镜（in-situ-SEM）：通过电子显微成像及适用的衍射、能谱方式，研究局部形貌和微区结构。

条件确认: 写明目标尺度、拍摄区域、视野数量、束流或电压限制。；说明是否允许切片、镀膜、离子加工，以及束敏感和空气敏感情况。；说明原位扫描电子显微镜（in-situ-SEM）希望回答的问题、参考标准或文献及需要的输出。；填写温度、气体、电位或载荷的范围、变化步骤、采集间隔、池体及窗口材料。
样品准备: 说明导电性、磁性、真空稳定性及观察面，提供定位示意图。
交付范围: 显微图像及选定的衍射或元素分析数据，附采集条件。

说明导电性、磁性、真空稳定性及观察面，提供定位示意图。

写明目标尺度、拍摄区域、视野数量、束流或电压限制。；说明是否允许切片、镀膜、离子加工，以及束敏感和空气敏感情况。；说明原位扫描电子显微镜（in-situ-SEM）希望回答的问题、参考标准或文献及需要的输出。；填写温度、气体、电位或载荷的范围、变化步骤、采集间隔、池体及窗口材料。

每份样品设置唯一编号，注明成分、保存条件及已知危险性。确认接收条件与收样地址后再寄出。

显微图像及选定的衍射或元素分析数据，附采集条件。

原始图像或数据

采集条件记录

约定的分析结果

图像数量、文件格式、分析深度及报告用途在委托时约定。示意图用于解释结果形式，不作为真实检测案例。

说明导电性、磁性、真空稳定性及观察面，提供定位示意图。方法、条件及结果解释应与测试目标一致；不同条件下的数据不宜直接比较。

按测试模式、样品状态、制样工作量和分析内容确认报价与排期。请在委托时明确原始文件、图表及报告用途。